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1.0目的:为确保EDX1800仪器正确操作，延长仪器使用寿命而制定。
2.0范围:本公司使用在EDX1800检测皆属之.
3.0权责:
仪器室：负责仪器的操作、日常保养与维护以及样品的储存。
IQC：按照《高风险物料检测频率一览表》进行送检。
4.0定义：
4.1各元素：各元素的名称及代号见“元素周期表”
5.0作业内容
5.1操作流程
5.1.1打开EDX1800仪器的红色“ON/OFF”按钮开关，同时红色指示灯会亮起，再打开计算机；
5.1.2打开“RoHS”检测软件，点击“预热”进行30分钟预热功能（注：冬天、夏天必须预热30分。）；
5.1.3点击菜单“初始化”进行初始化，并将“银校验胶片”放入到检测箱中的“测试端口”进行校正动作；
5.1.4初始化OK后，收回“银校验胶片”放入工具箱中进行保存；
5.1.5将要测试的产品放进检测箱中的“测试端口”中间，盖上检测箱盖，然后在“工作区”上选择要测试产品的类型，再点击菜单“开始”进行测试（此时检测箱上的绿色指示灯会亮起），同时弹出一个对话框填写样品的信息（如：测试样品名称、测试次数等）；
5.1.6测试完毕后，“历史记录”区会显示所测试样品的信息（包括样品名称、有害物质信息等）；
5.1.7然后打开菜单“分析报告”后，点击“保存”该测试报告及保存路径，同时可打印此测试报告；
5.2操作注意事项：
5.2.1此仪器应由专人负责，任何人其他人不得搬动、操作此仪器，否则后果自负；
5.2.2此仪器为精密仪器，测量中要避免受到干扰：
如：电机、振动、电焊、电磁、高压等；
5.2.3仪器应有交流净化稳压电源，保证电源稳定；
5.2.4测量室需配有空调，防止温差过大（温度控制15℃-30℃）；
5.2.5开机后，仪器需要预热15-30分钟后，才可以进行正常的测试工作；
5.2.6放样品时要注意清洁，不可使样品尘粒掉到测试窗口内，操作设备还要轻拿轻放；
5.2.7探测器窗口为铍金属，厚度在微米级，受外力极易破坏。探测器铍窗损坏，有空气进入，可直接导致探测器报废。因此，不得用任何物品接触探测器窗口。
5.2.8测量不同种类的样品，应先用不同的测试类，并根据提示使用相应的准直器，才能得到有效的测试效果；
5.2.9关机顺序：退出测试程序---关计算机主机---关测试仪主机---关稳压电源。
5.3EDX系统设置：
5.3.1计算机软件系统禁止人为设置。
5.3.2XRF标准可参考锦承《HSF技术标准》进行设置，但需考虑到30%的误差值。（因考虑到人为操作、样品分解程度的因素），具体见附件“XRF标准”，同时《HSF技术标准》有更新时，XRF标准将同步更新设置。
5.4保养与维护：
5.4.1日常保养
5.4.1.1器室每天17：00之前依据以下内容进行日常点检，并记录在《EDX日常保养点检表》上。
1）用无尘布对测试箱内、箱外进行擦拭，勿用强酸强大碱进行洗擦；
2）不定时的清理测试箱里的杂物；
3）检查电源是否有松动、破损现象；
4）检查测试箱的测试端口的膜是否有破损；
5）测试箱内的端口盖子是否随意打开（此盖禁止打开）；
6）检查常用备用零件是否完整，无遗失，如：银校验片、样品杯、端口备用膜等。
5.4.2定期维护
每年8月初由仪器制造商或有请资质的机构对仪器进行年度保养与维护，并保存记录。
5.5样品的测试与保存：
5.5.1样品测试
5.5.1.1仪器室人员接到样品，需对样品进行分解成均一材质，对每一个分解后的小样件进行测试，并保留分解后的样品及测试报告。
5.5.2样品与测试报告的管理
5.5.2.1每个被测试的样品需用塑料袋或自封袋储存，里面包括所分解的每一种小样件及测试报告，样品标签。（标签含样品名称、测试日期、测试人、来料日期/批号，有效期等）
5.5.2.2样品及测试报告的保存期限为半年，超过将予以销毁。（如客户有要求，依客户要求执行。）
6.0参考文件
6.1《进料检验管理程序》
6.2《高风险物料检测频率一览表》
7.0记录
7.1《EDX日常保养点检表》
附件：XRF标准设置：
序号有害物质锦承标准误差值XRF标准
3铅Pb20ppm30%ND
2汞Hg20ppm30%ND
4镉Cd20ppm30%ND
1铬CrND30%ND
5溴Br900ppm30%630ppm
6氯Cl900ppm30%630ppm
7砷AsND30%ND
荧光光谱仪是怎样进行工作的？
引言：探索荧光光谱仪的工作原理
荧光光谱仪是一种广泛应用于科学研究和工业领域的仪器，它能够通过测量物质在吸收光谱和发射光谱中的荧光信号，提供有关样品的丰富信息。本文将深入探讨荧光光谱仪的工作原理，包括激发光源、样品激发和荧光信号检测等关键步骤，帮助读者更好地理解和应用这一技术。
1.激发光源：引发样品激发的起点
荧光光谱仪的工作始于激发光源的选择和使用。常见的激发光源包括氘灯、氙灯、汞灯和激光器等。这些光源能够提供足够的能量，使样品中的分子或原子从基态跃迁到激发态。不同的激发光源具有不同的波长范围和光强，因此在选择激发光源时需要根据样品的特性和实验需求进行合理的选择。
2.样品激发：激发态的形成与能级跃迁
当样品受到激发光源的照射后，其中的分子或原子将吸收光子的能量，从基态跃迁到激发态。这个过程中，电子的能级发生变化，从而使样品处于激发态。不同的样品具有不同的能级结构，因此它们在吸收光谱中的特征峰位置也不同。通过测量样品在吸收光谱中的吸收峰，可以获得样品的吸收特性信息。
3.荧光信号检测：记录样品的发射光谱
样品在激发态停留的时间有限，随后会发生自发辐射，将多余的能量以荧光的形式释放出来。荧光光谱仪通过检测样品发射的荧光信号，记录下样品在发射光谱中的特征峰位置和强度。荧光信号的强度与样品中的荧光物质浓度相关，因此荧光光谱仪可以用于定量分析和物质鉴定。
4.数据分析与应用：解读荧光光谱的信息
荧光光谱仪测量得到的数据可以通过数据分析和处理来提取有用的信息。常见的数据处理方法包括峰值分析、荧光寿命测量和荧光光谱图像处理等。这些方法可以帮助研究人员深入了解样品的结构、性质和相互作用，从而在生物医学、环境监测、材料科学等领域中得到广泛应用。
结论：荧光光谱仪的应用前景
荧光光谱仪作为一种强大的分析工具，已经在许多领域中发挥了重要作用。它不仅可以提供样品的结构和性质信息，还可以用于药物筛选、环境污染监测、食品安全检测等方面。随着技术的不断发展，荧光光谱仪将进一步提高其灵敏度、分辨率和多样性，为科学研究和工业应用带来更多的可能性。
光谱仪
当使用X射线光照样品时，样品可以被激发出各种波长的荧光X射线，把混合的X射线按波长（或能量）分开，分别测量不同波长（或能量）的X射线的强度，就可以进行定性和定量分析，为此使用的仪器为X射线荧光光谱仪（以下简称XRF）。
方法采用压片法，根据不同的压力对样品进行压片，做压力与样品元素强度试验，确定压力和保压时间。（分析合金样品过程中粒度效应是影响荧光光谱仪结果的主要主要因素之一，需要通过固定破碎试样的克数与研磨时间来保持试样与分析试样粒度一致，确定研磨时间。）
输入各元素的化学值，用荧光光谱仪测定其强度，以元素化学值为横坐标，强度为纵坐标，分别建立一次作曲线，并得到相应的的回归情况，得到结果元素的相对标准偏差RSD<1％，这表明用XRF测定这些固体样品金属元素有很好的分析精度。整个检测过程快速、准确，不需要化学方法对样品进行前处理，同时可以实现多元素分析，并可以替代复杂的检测方法。
在研究金属、玻璃、地质、建筑材料等领域，X射线荧光光谱是较为常见的非破坏性元素分析方法，由于可直接分析固体或者是液体试样，进行非破坏分析，适用场景较多，在元素分析领域是一种切实可行的检测方法。微源实验室X射线荧光光谱仪XRF提供测量样品中的金属元素组成服务，对送样的需求需要进行进一步的沟通。更多XRF金属元素的检测问题欢迎评论区或私信留言。
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