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立式光学计测量轴径产生误差的原因有以下：
1、光路误差：立式光学计通过反射和折射原理进行测量，光路中的反射镜、透镜等元件会产生一定的误差，这种误差称为光路误差。光路误差会导致光线的偏折或反射不准确，从而影响轴径的测量精度。
2、环境干扰：立式光学计在使用过程中，受到环境因素的影响，例如温度，湿度，灰尘等都会对测量结果产生一定的干扰，特别是在高温，高湿或灰尘较多的环境下，会导致光学元件表面的污染或者气体的折射率变化，从而影响测量结果。
3、操作失误：立式光学计使用时要进行精细的调节和操作，例如调整光源亮度、对准测量目标等，如果操作不当，或调整不到位，会导致测量误差的产生。
光时域反射仪测试过程中可能存在的误差，除了仪器本身的精度限制外，操作不当也会导致测试误差。误差原因包括OTDR光时域反射仪的固有偏差、操作不当等。
OTDR光时域反射仪的固有偏差主要反映在距离分辨率上，由于抽样间隔，其距离分辨率正比于抽样频率。此外，操作不当也会导致测试误差，例如折射率设定偏差、量程范围选择不当、脉冲宽度选择不当、平均化处理时间选择不当以及光标位置放置不当。
对于OTDR光时域反射仪测试误差，可以通过以下方法来减少。首先，根据不同类型和厂家的光纤，设定折射率偏差。其次，正确选择量程范围，以实现测试结果的准确性。再次，保持测试参数的一致性，尽量使用同一块光时域反射仪进行测试，并保持各次测试主要参数值的设置一致。最后，选择合适的测试方式，如实时处理、自动处理或手动处理。
在进行实时处理时，要求对于刷新曲线进行不断地扫描。自动方式多用于对整条线路状况的概览，仅需完成折射率及波长等基本参数的设置即可。仪表在测试中能自动完成剩余参数的设定。
1、温度校正中引入的误差:在进行温度校正的过程中，由于测量仪器的精确度有限，而且露出体系外水银的平均温度和辅助温度计测得的温度不可能完全一致，所以可能导致测量过程中的误差；
2、实验条件改变:在测量过程中，虽然采用恒温槽使得阿贝折射仪的棱镜处于恒温状态，但其他仪器的实验条件很可能出现改变，这其中包括环境温度和气压的改变导致沸点仪所处环境的改变；
3、测量体系的改变:在实验数据的处理过程中认为测量体系的组成没有变化，但是在实际情况下，很可能由于操作原因改变测量体系的组成，在从沸点仪取样的过程中，以及进行折射率测量时，体系会有微量蒸发，从而使得体系的组成发生变化，即所测得的组成与液相和气相的实际组成不完全一致；
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